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當前位置:首頁   >  產品中心  >    >  顯微鏡  >  MX63/MX63L半導體顯微鏡

半導體顯微鏡

簡要描述:半導體顯微鏡的各種觀察功能可生成清晰的圖像,讓用戶能夠對樣品進行可靠的缺陷檢測。全新照明技術以及奧林巴斯Stream圖像分析軟件的圖像采集選項為用戶評估樣品和存檔檢測結果提供更多選擇。

  • 產品型號:MX63/MX63L
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2022-02-11
  • 訪  問  量:1223

詳細介紹

滿足電子行業需求

功能性

為滿足電子行業的人體工學和安全性要求而設計的附加功能以增強分析能力

人性化

簡潔的顯微鏡設置使用戶調整和再調用系統配置變得更為輕松。

先進的成像技術

我們成熟可靠的光學器件和優良的成像技術可獲得清晰圖像,并完成可靠檢測。

模塊化

用戶可通過選擇適合其應用的模塊進行系統定制。

先進的分析工具

MX63系列的各種觀察功能可生成清晰的圖像,讓用戶能夠對樣品進行可靠的缺陷檢測。全新
照明技術以及奧林巴斯Stream圖像分析軟件的圖像采集選項為用戶評估樣品和存檔檢測結
果提供更多選擇。

從不可見到可見:MIX觀察與采集
通過暗場與明場、熒光或偏光等其他觀察方法結合使用,MIX觀察技術能夠獲得特殊的觀察圖像。MIX觀察技術可讓用戶發現用傳統顯微鏡難以觀察的缺陷。暗場觀察所用的環形LED照明器具有可四象限分段照明的定向暗場功能。該功能可減少樣品光暈,有助于觀察樣品的表面紋理。

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